0
EN
1
المرجع الالكتروني للمعلوماتية

تاريخ الفيزياء

علماء الفيزياء

الفيزياء الكلاسيكية

الميكانيك

الديناميكا الحرارية

الكهربائية والمغناطيسية

الكهربائية

المغناطيسية

الكهرومغناطيسية

علم البصريات

تاريخ علم البصريات

الضوء

مواضيع عامة في علم البصريات

الصوت

الفيزياء الحديثة

النظرية النسبية

النظرية النسبية الخاصة

النظرية النسبية العامة

مواضيع عامة في النظرية النسبية

ميكانيكا الكم

الفيزياء الذرية

الفيزياء الجزيئية

الفيزياء النووية

مواضيع عامة في الفيزياء النووية

النشاط الاشعاعي

فيزياء الحالة الصلبة

الموصلات

أشباه الموصلات

العوازل

مواضيع عامة في الفيزياء الصلبة

فيزياء الجوامد

الليزر

أنواع الليزر

بعض تطبيقات الليزر

مواضيع عامة في الليزر

علم الفلك

تاريخ وعلماء علم الفلك

الثقوب السوداء

المجموعة الشمسية

الشمس

كوكب عطارد

كوكب الزهرة

كوكب الأرض

كوكب المريخ

كوكب المشتري

كوكب زحل

كوكب أورانوس

كوكب نبتون

كوكب بلوتو

القمر

كواكب ومواضيع اخرى

مواضيع عامة في علم الفلك

النجوم

البلازما

الألكترونيات

خواص المادة

الطاقة البديلة

الطاقة الشمسية

مواضيع عامة في الطاقة البديلة

المد والجزر

فيزياء الجسيمات

الفيزياء والعلوم الأخرى

الفيزياء الكيميائية

الفيزياء الرياضية

الفيزياء الحيوية

الفيزياء والفلسفة

الفيزياء العامة

مواضيع عامة في الفيزياء

تجارب فيزيائية

مصطلحات وتعاريف فيزيائية

وحدات القياس الفيزيائية

طرائف الفيزياء

مواضيع اخرى

قم بتسجيل الدخول اولاً لكي يتسنى لك الاعجاب والتعليق.

أنواع الأعطال وطرق اكتشافها

المؤلف:  م. احمد عبد المتعال

المصدر:  الإلكترونيات الرقمية وتطبيقاتها العملية

الجزء والصفحة:  ص363

2026-06-04

37

+

-

20

هناك عدة أنواع من الأعطال الممكنة وهي كما يلي:

أ - دائرة مفتوحة Open circiut وتمثل %75 من أعطال الدوائر الرقمية المتكاملة، وهناك احتمالان وهما:

  • فتح في مخرج بوابة قائدة، وهذه المشكلة تعمل على فقدان الإشارة عن مداخل جميع البوابات المنقادة
  • فتح في مدخل بوابة أحد البوابات المنقادة، وهذه المشكلة لا تؤثر في باقي البوابات المتصلة معها. 

 الشكل (1)

ب - دائرة مقصورة وتمثل 25% من أعطال الدوائر الرقمية المتكاملة وهناك احتمالان وهما: - قصر في خرج البوابة القائدة، وهذا يؤدى إلى انخفاض المستوى المنطقى لنقطة التفرع Node، وبالفعل هذا يؤثر على باقي البوابات المنقادة

- قصر في أحد مداخل البوابات المنقادة، وهذه المشكلة تؤدى إلى انخفاض المستوى المنطقى لنقطة التفرع ، وبالفعل هذا يؤثر في باقي البوابات المنقادة والشكل (1) يبين دائرة مركبة تحتوى على بوابة قائدة G ، وبوابات منقادة G2 : Gn.

وعادة يتم اكتشاف الدوائر المفتوحة circuits Open بواسطة أجهزة الاختبار التي تعمل على أساس الجهد مثل المجس المنطقي في حين يتم اكـــتــــشـــــاف الدوائر المقصورة Short circuits  بواسطة أجهزة الاختبار التي تعمل على أساس التيار مثل كاشف مسار التيار .

جـ - مشكلة توقيت timing trouble ، وهى كثير ما تحدث في العدادات والمسجلات.. إلخ، وحتى يتسنى لنا استيعاب هذا النوع من الأعطال سنأخذ بوابة NAND بمدخلين A,B ولها مخرج Y في حالتين مختلفتين كما بالشكل (2) .

 الشكل (2)

ففى الشكل (أ) يوجد تزامن بين الإشارتين الداخلتين على المدخلين A, B ، في حين أنه في الشكل ( ب ) حدث إزاحة للإشارة B ؛ لعيب في التوقيت فاختلف شكل الخرج Y وحتى يمكن اكتشاف مشاكل التوقيت نحتاج الجهاز تحلیل منطقی Logic AnaLayzer .

 وفي البداية يجب تحديد نوع الدوائر المتكاملة المستخدمة في الدائرة المطلوب اكتشاف العطل بها هل CMOS ام TTL؟ وعندئذ يجب استخدام مجس منطقى يتناسب مع الدائرة المعنية ، فهناك أنواع من المجسات المنطقية لا تستخدم إلا مع نوع واحد من الدوائر المتكاملة TTL أو CMOS في حين توجد أنواع أخرى يمكن استخدامها مع كلا النوعين ، ولكنه يحتوى على مفتاح يتم ضبطه على نوع الدوائر المتكاملة TTL أو CMOS ففي حالة الدوائر المتكاملة TTL فإن الحالة المنخفضة تكون عند جهد أقل من أو يساوى  V0.8 والحالة العالية عند جهد أكبر من أو يساوى 2.20 أما في حالة الدوائر المتكاملة CMOS فإن الحالة المنخفضة عند جهد أقل من أو يساوى 0.3 VDD  والحالة العالية عند جهد أكبر من أو يساوى VDD 0.7 .

 

لا توجد تعليقات بعد

ما رأيك بالمقال : كن أول من يعلق على هذا المحتوى

اخر الاخبار

اشترك بقناتنا على التلجرام ليصلك كل ما هو جديد